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          電子散斑干涉(ESPI)實驗裝

          簡要描述:本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。該實驗裝置具有機構簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作,實時顯示全場信息及處理信息快等優點,故而應用廣泛,如物體形變測量、無損測量、震動測量等。

          • 產品型號:WSG-1型
          • 廠商性質:生產廠家
          • 更新日期:2023-11-07
          • 訪  問  量:3005

          詳細介紹

          產品詳細資料

              本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
             該實驗裝置具有機構簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作,實時顯示全場信息及處理信息快等優點,故而應用廣泛,如物體形變測量、無損測量、震動測量等。 

          1. 自己調節光路,可提高動手能力
          2. 采用了處理光學信息的CCD測量技術
          3. 計算機處理圖象,軟件操作簡便
          4. 可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立圖

          CCD攝像機(帶電源)、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調整架、分束鏡、擴束鏡、準直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測物品等

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